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Semiconductor

제품 테스트 자동화 솔루션

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SSELF™ for Semiconductor

- 사용자 설정에 따른 유연한 테스트

- 그리드별, 그룹별 다양한 에러 형태 출력

- 웨이퍼/회로도 필터링 툴 제공으로 인한 특정 영역 선별 검출 지원

- 객관적인 검사결과 도출

- 제품 구성군
(웨이퍼/회로도 필터링 application,웨이퍼 회로도 불랑 검출 library 또는 application)

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사용자 설정에 따른 유연한 테스트

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그리드별, 그룹별 다양한 에러 형태 출력

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웨이퍼/회로도 필터링 툴 제공으로 인한 특정 영역 선별 검출 지원

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객관적인 검사결과 도출

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제품 구성군
(웨이퍼/회로도 필터링 application,웨이퍼 회로도 불랑 검출 library 또는 application)

미세한 스크래치 검출

실리콘 얼룩 검출

특정영역 선별 검출

검출된 에러를 웨이퍼의 물리 좌표 x,y, theta로 변환, 그룹별 출력

일정한 그리드 값을 이용하여 정규화된 에러 검출 결과 출력

회로의 끊김 검출

회로의 겹침 검출

회로의 길이 이상 검출

회로도 특정 영역 선별 검출